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吉時利推出針對高功率半導體測試優化設計的數位源表
發佈日期:2011/4/19   |   閱讀:2082

吉時利儀器公司日前推出2600A系列源表中的最新產品2651A高功率源表(System SourceMeter®)儀器。2651A型專門為高功率電子的特性分析而優化設計,提供業內可用的最寬電流量程。該量程對於各種各樣的研發、可靠性及生產測試應用至關重要,例如測試高亮度LED (HBLED)、功率半導體、DC-DC轉換器、電池,以及其他高功率材料、元件、模組和元件。

2600A系列的每個產品成員一樣,2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載,組合了精密電壓和電流錶。該源表在單個全尺寸主機殼中組合了多種儀 器的功能:半導體特性分析儀、精密電源、真電流源、數字多用表、任意波形發生器、電壓或電流脈衝發生器、電子負載,以及觸發控制器,並且通過吉時利的 TSP-Link®技術可完全擴展為多通道嚴格同步系統。與競爭產品具備有限的功率、測量速度和/或解析度不同,2651A型可源出或吸入高達 2,000W脈衝功率(±40V±50A)200W直流功率(±10V@±20A±20V@±10A±40V@±5A)。該數字源表還能夠以高達1微秒每讀數的速率精密測量低達1pA100 μV的信號。

兩種測量模式:數位化或積分

2651A型可選擇數位化或積分測量模式,用於對瞬態和穩態行為進行精密特性分析。兩個獨立的模/(A/D)轉換器定義每種模式——一個用於電流,另一個用於電壓,可同時用於精密電源讀回,不會影響測試效率。

數位化測量模式的18位元A/D轉換器能夠以1微秒每點進行連續採樣,每秒可捕獲多達100萬個讀數,使其成為波形捕獲及高精度測量瞬態特徵的最佳選擇。而競爭方案必須通過對多個讀數進行平均來產生一次測量結果,並且往往不能測量瞬態行為。

積分測量模式基於22位元A/D轉換器,優化了儀器在需要最高可能測量準確度和解析度應用中的工作性能。這樣可確保精密測量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測量工作模式。

寬動態範圍適用於更寬範圍的應用

TSP-Link並聯兩個2651A單元,可將系統的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競爭方案高兩倍半至五倍。兩個單元串聯時,電壓量程 可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使使用者能夠將多個單元作為單台儀器進行定址,使其一致動作,從而簡 化測試。2651A型的內置觸發控制器能夠以500納秒同步所有連結通道的工作。2651A型的這些功能提供了業內可用的最寬動態範圍,使其非常適合於各 種大電流、大功率測試應用,包括:

  • 功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
  • GaNSiC及其他複合材料和器件的特性分析
  • 半導體結溫特性分析
  • 可靠性試驗
  • 高速、高精度數位化
  • 電遷移研究

高速脈衝防止測試期間器件自熱

為了將器件在測試期間的自熱(這也是大功率半導體和材料的普遍問題)降至最小,2651A型提供了高速脈衝功能,使用戶能夠以高準確度源出和測量脈衝。脈寬從100μsDC、占空比從1%100%可程式設計。而競爭方案通常受限於儀器占空比程式設計靈活性。

強大的測試腳本開發工具

器中嵌入了吉時利基於LXII-V測試軟體TSP Express,所以無需軟體安裝和程式設計。從基本到高級測試,TSP Express均能以簡單三步提供器件資料:連接、配置和採集。它還簡化了儀器連接,允許更高的脈衝水準。能夠以圖形或表格格式查看結果,然後匯出 .csv格式檔,可用於試算表軟體。還提供另外兩款用於創建測試序列的強大軟體工具。Test Script Builder應用軟體支援TSP腳本的創建、修改、調試、運行和管理。一款基於IVILabVIEW®驅動簡化了將2651A集成至LabVIEW 試序列的過程。

(本文來源:國際電子商情)

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