純石墨烯(graphene)薄片製成的IC能以比矽晶片更低的溫度、更高的速度運作，但遺憾的是，無缺陷的石墨烯薄片非常難產生，甚至其缺陷也很難表徵出來。為此美國康乃爾大學(Cornell University)研究人員宣佈發明瞭一種影像技術，能通過將石墨烯薄片色彩化，來簡化其量測方法，快速地辨識出石墨烯薄片的特性。

康乃爾大學發明的新技術，能通過將完美的石墨烯片邊緣著色，來區分出石墨烯薄片的哪些區域是真正的單層膜(monolayers)；利用繞射成像電子顯微鏡(diffraction imaging electron microscopy)，該技術能量測出電子從石墨烯薄片表面反彈的角度，然後用不一樣的顏色來標示，所產生的色彩化薄片影像，就能很快地根據其定位辨識出晶界(grain boundaries)。

採用該技術所產生的影像，看起來就像是一幅拼布作品；較大的固定區域代表完美的單分子膜小薄片，被著色的邊緣則代表那些小薄片之間的不完美介面。這個研發計畫是由美國國家科學基金會(NSF)所贊助。

翻譯：Judith Cheng

（來源：電子工程專輯）